Spectromètres

6 résultats affichés

  • kae s libs

    KAE-S-LIBS

    0,00 €

    Fiche produit

    Caractéristiques techniques

    Type d’équipement : Spectromètre LIBS portable
    Modèle : KAE-S-LIBS
    Technique d’analyse : LIBS – Laser Induced Breakdown Spectroscopy
    Applications principales : Identification d’alliages / PMI / analyse élémentaire des métaux
    Système d’exploitation : Android
    Écran tactile : 5 pouces
    Résolution écran : 720 × 1280 pixels
    Fonction tactile : Multi-touch
    Luminosité : Réglable

    Source laser

    Source lumineuse : Laser pulsé
    Longueur d’onde : 1 535 nm
    Durée de vie du laser : 1 milliard de tirs
    Classe laser : Classe I
    Temps d’analyse : <5 s

    Performances analytiques

    Limite de détection : 0,05 %
    Répétabilité – élément principal : RSD <1 %
    Répétabilité – élément mineur : RSD <5 %
    Distance de travail : Ajustée au plan de la sonde
    Environnement d’analyse : Air ambiant, sans gaz protecteur
    Matériau de la fenêtre d’observation : Saphir

    Gestion des données

    Mémoire interne : 16 Go
    Formats d’export : PDF / XLSX
    Rapports personnalisables : Photos et informations société / matériaux pouvant être ajoutées
    Transmission des données : USB / clé USB Type-C

    Protection et alimentation

    Indice de protection : IP54
    Batterie : Lithium 3 300 mAh
    Autonomie : 8 h
    Température de fonctionnement : 0 à 40 °C
    Dimensions L × l × H : 290 × 300 × 90 mm
    Poids : 1 750 g

    Ajouter à ma demandeTerminé
  • kae s xrfsérie

    KAE-S-XRF série

    0,00 €

    Fiche produit

    Modèles disponibles

    KAE-S-XRF-A1
    Mode d’analyse : Analyse d’alliages
    Détecteur : Si-PIN
    Plage d’analyse élémentaire : Ti à U
    Cible : Ag

    KAE-S-XRF-A12
    Mode d’analyse : Analyse d’alliages / analyse de revêtement
    Détecteur : Si-PIN
    Plage d’analyse élémentaire : Ti à U
    Cible : Ag

    KAE-S-XRF-A2
    Mode d’analyse : Analyse d’alliages
    Détecteur : SDD
    Plage d’analyse élémentaire : Mg à U
    Cible : Rh

    KAE-S-XRF-A22
    Mode d’analyse : Analyse d’alliages / analyse de revêtement
    Détecteur : SDD
    Plage d’analyse élémentaire : Mg à U
    Cible : Rh

    Caractéristiques techniques communes

    Type d’équipement : Analyseur XRF portable pour alliages
    Source d’excitation : 50 kV / 200 µA max.
    Dissipation thermique : Dissipateur thermique dédié à rainure en T
    Affichage : Écran tactile résistif industriel 4,3 pouces
    Système d’exploitation : Android
    Sécurité : Protection par test d’air contre les opérations non ciblées
    Mémoire interne : 32 Go
    Interface de données : Mini-USB
    Traitement des données : Génération de rapports Excel et PDF, contenu personnalisable
    Batterie : 6 600 mAh
    Température de fonctionnement : -35 à 60 °C
    Dimensions L × l × H : 254 × 79 × 280 mm
    Poids : 1,6 kg

    Ajouter à ma demandeTerminé
  • kae s xrf b

    KAE-S-XRF-B

    0,00 €

    Fiche produit

    Caractéristiques techniques

    Type d’équipement : Analyseur XRF portable pour alliages
    Modèle : KAE-S-XRF-B
    Technique d’analyse : Fluorescence X – XRF
    Mode d’analyse : Identification et analyse des alliages

    Source d’excitation

    Tension maximale : 35 kV
    Courant maximal : 200 µA
    Cible : Ag
    Tube à rayons X : Miniature avec fenêtre intégrée
    Puissance : ≥4 W

    Détecteur

    Type : Si-PIN
    Surface de fenêtre : 25 mm²

    Plage d’analyse élémentaire

    Éléments analysables indiqués : K / Ca / Ti / V / Cr / Mn / Fe / Co / Ni / Cu / Zn / As / Se / Rb / Sr / Zr / Nb / Mo / Ru / Rh / Pd / Ag / Cd / Sn / Sb / Ba / Ta / Hf / W / Re / Ir / Pt / Au / Hg / Pb / Bi

    Alliages analysables

    • Alliages ferreux
    • Aciers inoxydables
    • Alliages chrome-molybdène
    • Aciers faiblement alliés
    • Aciers à outils
    • Aciers sans soudure
    • Alliages à base de nickel
    • Alliages de cobalt
    • Alliages de titane
    • Alliages de cuivre
    • Alliages molybdène / tungstène
    • Alliages d’aluminium

    Bibliothèque intégrée : 288 nuances courantes
    Base de données : Personnalisable

    Affichage et gestion des données

    Écran : LCD tactile 3,5 pouces
    Mémoire interne : 8 Go
    Capacité de stockage : Plus de 40 000 groupes de données
    Transmission des données : Partage Wi-Fi via application mobile
    Système d’exploitation : Windows

    Alimentation et conditions d’utilisation

    Batterie : Lithium 6 600 mAh
    Autonomie : Environ 4 heures
    Sécurité : Protection par test d’air contre les tirs involontaires
    Température de fonctionnement : -20 à 40 °C
    Humidité relative : 10 à 80 %
    Dimensions L × l × H : 250 × 265 × 85 mm
    Poids : 1,3 kg

    Ajouter à ma demandeTerminé
  • kae s xrf minerais

    KAE-S-XRF-Minerais

    0,00 €

    Fiche produit

    Caractéristiques techniques

    Type d’équipement : Analyseur XRF de composition élémentaire
    Modèle : KAE-S-XRF-Minerais
    Technique d’analyse : Fluorescence X – XRF
    Méthode d’échantillonnage : Manuelle
    Version à échantillonnage automatique : Disponible selon configuration

    Tube à rayons X

    Type : Fenêtre latérale
    Surface de fenêtre en béryllium : 25 mm²
    Tension : 5 à 50 kV, réglable en continu
    Courant : 0 à 1 000 µA, réglable en continu
    Cible : Ag
    Refroidissement : Par air

    Détecteur

    Type : SDD
    Résolution : 125 eV FWHM Mn-Kα
    Refroidissement : Peltier
    Azote liquide : Non requis

    Analyse élémentaire

    Gamme d’éléments : Na à U
    Collimateurs : Commutation automatique entre 4 diamètres
    Diamètres des collimateurs : Ø1 / Ø3 / Ø5 / Ø8 mm
    Conditions de mesure : Atmosphère / vide / hélium
    Types d’échantillons : Solides / liquides / poudres

    Chambre et environnement

    Dimensions de la chambre d’échantillon L × P × H : 304 × 368 × 78 mm
    Température d’utilisation : 10 à 35 °C
    Humidité relative : 40 à 70 % HR
    Alimentation : AC 220 V / 50 Hz
    Dimensions de l’unité principale L × P × H : 570 × 400 × 400 mm
    Poids : 64 kg

    Sécurité

    • Verrouillage haute tension
    • Capot commandé par logiciel
    • Interrupteur de protection contre les fuites
    • Boîtier entièrement métallique
    Ajouter à ma demandeTerminé
  • kae s xrf mp

    KAE-S-XRF-MP

    0,00 €

    Fiche produit

    Caractéristiques techniques

    Type d’équipement : Analyseur XRF pour métaux précieux
    Modèle : KAE-S-XRF-MP
    Technique d’analyse : Fluorescence X – XRF
    Applications principales : Analyse des alliages précieux / identification des métaux précieux / évaluation de la pureté
    Éléments notamment analysés : Au / Ag / Pt / Pd et autres éléments dans la plage instrumentale
    Évaluation de la pureté de l’or : Jusqu’à 24K
    Source d’excitation : Maximum 50 kV / 1 mA
    Détecteur : Si-PIN
    Structure optique : Verticale
    Collimateur : Ø2,5 mm
    Plage de détection élémentaire : Ti à U
    Précision : ±0,01 %
    Types d’échantillons : Solides / liquides / poudres
    Préparation d’échantillon : Non requise selon l’application indiquée
    Méthode d’analyse : Non destructive
    Caméra : Haute définition intégrée
    Écran : Tactile capacitif 11,6 pouces
    Sorties de données : Bluetooth / rapports Excel / rapports PDF
    Température de travail : -20 à 50 °C
    Alimentation : AC 100 à 240 V / 50–60 Hz
    Dimensions de la chambre d’échantillon L × l × H : 320 × 480 × 130 mm
    Dimensions extérieures L × l × H : 330 × 580 × 360 mm
    Poids : 38,6 kg

    Sécurité

    • Verrouillage haute tension
    • Protection anti-fuite
    • Interrupteur étanche
    • Boîtier entièrement métallique
    Ajouter à ma demandeTerminé
  • kae sep

    KAE-SEP

    0,00 €

    Fiche produit

    Caractéristiques techniques

    Type d’équipement : Spectromètre portable à étincelle à lecture directe
    Modèle : KAE-SEP

    Courbes analytiques

    Courbes standard : Aciers faiblement alliés A1 / aciers inoxydables chrome-nickel A2
    Courbes personnalisées : Possibilité d’ajouter ou personnaliser des courbes pour des matériaux spécifiques, notamment bases Ni, Mg, Zn, etc.
    Bases analytiques détaillées dans la documentation : Fer / aluminium / cobalt

    Système optique

    Détecteur : CMOS haute performance
    Conception optique : Structure à double chambre optique de type Paschen-Runge
    Température ambiante indiquée : 34 °C ±0,5 °C
    Température UV indiquée : 34 °C ±0,5 °C
    Réticule : 3 000 lignes/mm
    Plage spectrale : 165 à 520 nm
    Résolution moyenne : ≤10 pm/pixel
    Longueur focale visible : 300 mm
    Longueur focale UV : 298 mm

    Source d’excitation

    Source lumineuse : Source d’excitation haute énergie
    Fréquence : 100 à 1 000 Hz
    Tension d’excitation : 300 V
    Courant d’excitation : 400 A
    Gaz : Argon, pureté ≥99,995 %, pression ≥0,3 MPa
    Débit d’argon en excitation : 3 L/min
    Débit d’argon en veille : 0,3 L/min

    Stand d’excitation

    Électrode : Tungstène
    Purge : Nettoyage automatique
    Conception : Compensation thermique auto-déformante
    Intervalle d’analyse : 2,8 mm

    Logiciel d’analyse

    • Contrôle automatique de l’étalonnage selon l’écart défini et le nombre d’excitations
    • Affichage des résultats sous forme de pourcentages, intensités et rapports d’intensité
    • Nettoyage automatique de l’électrode selon les paramètres définis
    • Affichage des écarts correspondants
    • Stockage des résultats des éléments analysés
    • Impression des résultats

    Transmission et fonctionnement

    Transmission des données : Ethernet
    Autonomie en veille : Environ 10 h
    Nombre d’excitations continues indiqué : 160 à 180
    Environnement de travail : 5 à 35 °C
    Alimentation : Batterie lithium remplaçable 24 V
    Dimensions L × l × H : 840 × 700 × 1 050 mm
    Poids : 50 kg

    Courbes de base disponibles

    Base fer : Aciers faiblement alliés / aciers inoxydables Cr-Ni / aciers à outils haute vitesse / aciers à haute teneur en manganèse / fontes à haute teneur en chrome / fontes à haute teneur en nickel

    Base aluminium : Alliages Al / Al-Si / Al-Zn / Al-Cu / Al-Mg-Si

    La fiche technique fournit également les plages massiques élément par élément pour chaque courbe analytique. Pour les fontes, la documentation précise que les échantillons doivent être préalablement blanchis.

    Ajouter à ma demandeTerminé